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AFT-PL系列點光源采用聚光裝置實現了高亮度及均勻的擴散光,為反射度高的表面提供對位及表面檢查照明,如金屬表面、薄膜、晶片、膠片及玻璃等的劃傷檢查、芯片和硅晶片的破損檢測、玻璃板的表面損傷、PC母板的圖譜檢測、印刷版的圖形檢查等。
類型 | 規格 型號 | 外形尺寸 | 上口 | 下口 | 功率 | 顏色 | 重量(g) | 標配 控制器 | 特點 | 應用 |
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點光源 | AFT-PL100 | φ25*50 | φ25 | φ8 | 1W | 紅(R) 白(W) 藍(B) | 45 | AFT-ALP2405-01 | 亮度可調、低溫、均衡、無閃爍,無陰影 | 均勻照明反光(鏡面)工作界面、金屬、玻璃光潔表面的劃傷檢查 芯片和硅晶片的破損檢測檢測玻璃板的表面損傷檢測PC母板的圖譜 |
AFT-PL300 | φ25*50 | φ25 | φ8 | 3W | 45 | AFT-ALP2405-01 |
AFT-PL外形尺寸 |
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芯片字符檢測 | PCB基板MARK點檢測 | 定位標志檢測 |
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